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光學(xué)透過(guò)率LS108H光學(xué)透過(guò)率測(cè)量?jī)x是一款臺(tái)式光學(xué)透過(guò)率儀，主要用于有機(jī)材料、玻璃、PC材料透光率測(cè)試,測(cè)試孔徑3mm，適合小尺寸材料的透光率、紅外線和紫外線透過(guò)率測(cè)量，平面臺(tái)式設(shè)計(jì)，方便放置測(cè)試樣品,即放即測(cè)，測(cè)試快速數(shù)據(jù)精準(zhǔn)。

透過(guò)率測(cè)試儀TMS是一套全波長(zhǎng)的0度角透過(guò)率檢測(cè)儀，能快速準(zhǔn)確地測(cè)量各類平面光學(xué)元件的透光率，可用于實(shí)時(shí)在線檢測(cè)，實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品全檢。適用于棱鏡、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板、太陽(yáng)膜、濾光片等平面光學(xué)元件的檢測(cè)。

全波長(zhǎng)透過(guò)率譜分析儀Sphere3000是一套全波長(zhǎng)顯微球面光學(xué)元件光譜分析儀，能快速準(zhǔn)確地測(cè)量各類球面/非球面器件的相對(duì)/反射率。適用于凸透鏡、凹透鏡、鏡片等的鍍膜反射率測(cè)量。還可進(jìn)行有干涉條紋的單層膜厚或折射率測(cè)量。

光學(xué)鍍膜橢偏儀ME-L 是一款科研級(jí)全自動(dòng)高精度穆勒矩陣型橢偏儀，凝聚了頤光科研團(tuán)隊(duì)在橢偏技術(shù)多年的投入，其采用行業(yè)前沿的創(chuàng)新技術(shù)，包括消色差補(bǔ)償器、雙旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器同步控制、穆勒矩陣數(shù)據(jù)分析等?？蓱?yīng)用于各種各向同性/異性薄膜材料膜厚、光學(xué)納米光柵常數(shù)以及一維/二維納米光柵材料結(jié)構(gòu)的表征分析。

可同時(shí)進(jìn)行 SCI 和 SCE 測(cè)量，并通過(guò)液晶面板顯示 SCI /SCE 數(shù)據(jù)；

技術(shù)參數(shù)符合 GB2410-2008 ASTM D1003-61（1997） JIS K7105-81 等測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

激光干涉儀手機(jī)面板攝像孔透射波前檢測(cè)

玻璃厚度激光測(cè)試儀本產(chǎn)品為激光位移傳感測(cè)試儀，可滿足手機(jī)蓋板玻璃等各種特種玻璃厚度測(cè)試。